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產(chan)品詳細頁
ROHS/ELV/WEEE有害元素熒光X射線檢查裝置
- 產品型號(hao)：XGT-5700WR
- 更新時間：2023-03-19
- 產(chan)品介紹(shao)：ROHS/ELV/WEEE有害元素熒光X射線檢查裝置在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優點的基礎上，Horiba又推出用于微區分析的X熒光分析儀。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術，可將X射線聚集成10µm射線束。不但可以對樣品的表面進行形貌掃描，也可對樣品的內部結構透視掃描，甚至還可以實現元素掃描.
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產品介紹
ROHS/ELV/WEEE有害元素熒光X射線檢查裝置
在保留(liu)XGT-1000WRX射(she)(she)線(xian)熒光光譜儀(yi)優點的基礎上，Horiba又推出用于微區分(fen)析(xi)的X熒光分(fen)析(xi)儀(yi)。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術，可(ke)(ke)(ke)將X射(she)(she)線(xian)聚集(ji)成(cheng)10µm射(she)(she)線(xian)束(shu)。不但可(ke)(ke)(ke)以對(dui)樣(yang)(yang)品(pin)的表面進行形(xing)貌掃(sao)描，也可(ke)(ke)(ke)對(dui)樣(yang)(yang)品(pin)的內部結(jie)構透(tou)視掃(sao)描，甚至(zhi)還可(ke)(ke)(ke)以實現元素(su)掃(sao)描.
概要
應用
PCB基板的掃描為例 |
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電子組件內部的異物、故障解析為例 | |
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特征
| XGT-5700WR系列 |
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X線照射徑 | Ø3mm標準 |
一次X線濾膜 | Ø3mm照射徑:4種自動切換 |
二次X線濾膜 | 用于金屬中有害元素高靈敏度測定的標準裝備 |
X線檢測器 | 液體氮氣冷卻3L |
高純度Si檢測器 | |
樣品形狀 | 不超過350×400×40mm |
樣品載臺 | 掃描(miao)范圍：100×100mm? 200×200mm（可選） |