基本(ben)信息

儀器

微區X射線熒光分(fen)析儀

樣品類型

固體、液體、顆(ke)粒

檢測(ce)元素(su)

輕元素檢測器：C* – Am
(常規檢測(ce)器：F – Am)

樣品倉尺寸

450(W) x 500(D) x 80(H)

1030(W) x 950(D) x 500(H)

最大樣品尺寸

300(W) x 250(D) x 80(H)

500(W) x 500(D) x 500(H)

樣品最大質量

1 kg

10 kg

光學(xue)觀察

兩(liang)個帶物鏡的(de)高分辨率(lv)相機

光學設計(ji)

垂直同軸 X 射線和(he)光學觀察(cha)

樣品照(zhao)明/觀察

頂(ding)部、底部和側向照明(ming)/明場和(he)暗場

X-射(she)線管

功率

50 W

電壓

50 kV以下

電流

1 mA以內

靶材

Rh

X射(she)線光(guang)光(guang)學(xue)系統

X射(she)線(xian)頭數量

多達(da)配置四個

光譜(pu)優化(hua)初級X-射線濾光(guang)片  

5個位置

檢測(ce)器(qi)

熒光X-射線檢(jian)測器

硅漂移(yi)檢測器(qi)（SDD）

透射X射線檢測(ce)器

NaI(Tl)

掃(sao)描分(fen)析

掃描范(fan)圍(wei)

100 mm x 100 mm

350 mm x 350 mm

步進尺寸(cun)

2 mm

4 mm

Operating mode

樣品環境

全真空/局部(bu)真空(kong)/大氣環境(jing)/He吹掃（選配）

局部真空/大(da)氣環境/He吹掃（選配）*He吹掃條件(jian)對于(yu)兩個檢測器都檢測到C和F是必要(yao)的。