產品介紹

日立鍍層測厚儀

X-Strata920 是一款簡潔、堅固和(he)可靠(kao)的質(zhi)量控(kong)制 XRF 臺(tai)式(shi)熒(ying)光系(xi)統，用于簡便、快速的鍍層厚度測(ce)試(shi)和(he)材料分析。X-Strata920 可應用于常規金(jin)屬(shu)處理(li)、電(dian)子元器件制造(zao)和(he)金(jin)屬(shu)測(ce)定（如珠(zhu)寶(bao)鑒定）等行業(ye)，完(wan)成(cheng)單層或多層厚度測(ce)量。

主要特點包括：

? 成本低、快速(su)、非破壞(huai)的 EDXRF 分析(xi)

? 可(ke)完成(cheng)至多(duo) 4 層鍍層（另加底材）和 15 種元素的(de)鍍層厚度(du)測試，自動(dong)修正 X 射(she)線重疊譜線

? 多元(yuan)素辨識，廣泛覆蓋元(yuan)素周期表上從(cong)鈦(tai)（22 號）到鈾（92號）各元(yuan)素

使(shi)用(yong)能量色(se)散 X 射線熒光(guang)（EDXRF）技術(shu), X-Strata920 可實現如下測試要求：

? 符(fu)合 ISO3497 標準測(ce)試方(fang)法(fa)(fa)：金屬(shu)鍍(du)層(ceng)—X 射線光譜法(fa)(fa)測(ce)量鍍(du)層(ceng)厚度

? 符合 ASTM B568 標準測(ce)試(shi)方法(fa)：X 射線光(guang)譜儀測(ce)量鍍(du)(du)層(ceng)厚度，包(bao)括金屬和部分非(fei)金屬鍍(du)(du)層(ceng)

? 至多同時分析 25 種(zhong)元素

日立鍍層測厚儀

井深式、開槽式樣品倉設計

? “井深式(shi)”樣(yang)品(pin)(pin)倉設計，可以(yi)測量(liang)(liang)很小(xiao)到(dao)很大(da)的廣泛尺寸(cun)的樣(yang)品(pin)(pin)/零件(jian) ，可測量(liang)(liang)樣(yang)品(pin)(pin)高度不超(chao)過 160mm (6.3”)。樣(yang)品(pin)(pin)臺支架可放置(zhi)在“深井”中的 4 個位置(zhi)的卡槽上，使得不同樣(yang)品(pin)(pin)都可以(yi)方(fang)便地(di)測量(liang)(liang)。

? 樣品(pin)臺支(zhi)架放(fang)置在(zai)標(biao)準位置時，就是“開槽(cao)式(shi)樣品(pin)倉(cang)”，可以(yi)(yi)測量大(da)型平板樣品(pin)，如尺(chi)寸大(da)于儀器寬度(du)的印制線路(lu)板。所(suo)有樣品(pin)可以(yi)(yi)很方便(bian)地放(fang)置并定位到(dao)待測點。

? Z 軸自(zi)動控(kong)制（Z 向行程：43mm/1.7”）

? 樣品倉內部(bu)尺(chi)寸：152 x 279 x 508mm (6 x 11 x 20") (高 x 寬 x 深 D)

簡潔、堅(jian)固、耐(nai)用(yong)的設(she)計

? 經實踐驗證、堅固、耐用的設計，可(ke)在(zai)大多(duo)數嚴苛的工業(ye)條件(jian)下使用。

? 空(kong)間占用小 –節約寶貴的工作臺空(kong)間，也可近產線放置。

? 計算機提供 USB 和(he)網絡(luo)接(jie)口用于連接(jie)打印(yin)機、光(guang)驅和(he)網絡(luo)。