產品介紹

HORIBA堀場X射線熒光有害元素分析儀

HORIBA XGT-1000WR主要(yao)技術指標(biao)：

              1、 分析元素：Si～UCd/Pb高精度(du)型(xing)；Na～U選擇：φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型(xing)

        ;      2、 檢測精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

              3、 檢測倉內部(bu)尺寸：不超過460×360 mm高(gao)150 mm

              4、X射線照射徑：φ1.2 mm可選：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切(qie)換(huan)

              5、 檢測(ce)器：高純硅檢測(ce)器 XEROPHY

              6、 設(she)備重量(liang)：約 265 kg不含桌子、計(ji)算機

              7、 外形尺(chi)寸(cun)：分(fen)(fen)析(xi)部分(fen)(fen)：610W×750D×500Hmm 

       8、 信號處理部：220W×500D×480Hmm 

       9、可同時測量4層金屬鍍層的厚度。

                    HORIBA在能量(liang)(liang)(liang)色散XRF方面的XGT技術實現了(le)微(wei)小面積、高(gao)X射線能量(liang)(liang)(liang)聚焦測量(liang)(liang)(liang)，確保了(le)微(wei)區測量(liang)(liang)(liang)、快(kuai)速(su)測量(liang)(liang)(liang)、高(gao)精度測量(liang)(liang)(liang)。