產品介紹

技術參數：

? ; 10 µm 的 X 射(she)線高(gao)強度(du)、高(gao)速度(du)的掃描分析。

    樣品可以置于大氣中(zhong)分析，的真(zhen)空探(tan)針(zhen)方式。

?  同軸觀察，可以從(cong)攝像系統中選取(qu)所需的測量點，單鍵控制，放大(da)倍數可至 100 倍。

?  可以對物質表面(mian)和內部構造同時進行分析。

?  主要應用：WEEE/RoHS 法令中涉及的(de)(de)產(chan)品有(you)害元素的(de)(de)測定、珠(zhu)寶首飾的(de)(de)成份檢(jian)測、電子電路板的(de)(de)微區(qu)分析、考古或博物館中對古物的(de)(de)分析

?  同時也(ye)滿足科研院(yuan)校在常規(gui)元素(su)檢測方面(mian)的要求(qiu)

    可進行樣品內部從Na~ U的元素進行定性、定量分析
2、X射線透射成像，可觀察樣品內部細微構造
3、多點自動分析，一次可測99點
4、能做小至10μm的微區
5、兩種X射線聚焦導管快速切換，可選1.2mm和10μm或100μm
6、X射線與可見光同軸設計，真正做到準確定位測試部位，見即所得。
7、高(gao)純硅檢測器，保證高(gao)穩定性及良(liang)好的性能(neng)